Präparationstechniken für die Fehleranalyse an integrierten Halbleiterschaltungen:
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | Undetermined |
| Published: |
Weinheim <<[u.a.]>>
VCH
1988
|
| Subjects: | |
| Physical Description: | XII, 134 S. |
Staff View
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV024647988 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20090910 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 090924s1988 |||| 00||| und d | ||
| 035 | |a (OCoLC)74995449 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV024647988 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakwb | ||
| 041 | |a und | ||
| 049 | |a DE-83 | ||
| 084 | |a ZN 4030 |0 (DE-625)157339: |2 rvk | ||
| 084 | |a ZN 4900 |0 (DE-625)157417: |2 rvk | ||
| 084 | |a ZN 5680 |0 (DE-625)157475: |2 rvk | ||
| 100 | 1 | |a Beck, Friedrich |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Präparationstechniken für die Fehleranalyse an integrierten Halbleiterschaltungen |c Friedrich Beck |
| 264 | 1 | |a Weinheim <<[u.a.]>> |b VCH |c 1988 | |
| 300 | |a XII, 134 S. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Fehleranalyse |0 (DE-588)4016608-9 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Integrierte Schaltung |0 (DE-588)4027242-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Präparation |0 (DE-588)4130471-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Halbleiterschaltung |0 (DE-588)4158811-3 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |a Halbleiteranalytik |2 gnd |9 rswk-swf | |
| 689 | 0 | 0 | |a Integrierte Schaltung |0 (DE-588)4027242-4 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Fehleranalyse |0 (DE-588)4016608-9 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a Präparation |0 (DE-588)4130471-8 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a Integrierte Schaltung |0 (DE-588)4027242-4 |D s |
| 689 | 1 | 1 | |a Fehleranalyse |0 (DE-588)4016608-9 |D s |
| 689 | 1 | |5 DE-604 | |
| 689 | 2 | 0 | |a Halbleiteranalytik |A f |
| 689 | 2 | |5 DE-604 | |
| 689 | 3 | 0 | |a Halbleiterschaltung |0 (DE-588)4158811-3 |D s |
| 689 | 3 | 1 | |a Fehleranalyse |0 (DE-588)4016608-9 |D s |
| 689 | 3 | |5 DE-604 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018059587 | ||
Record in the Search Index
| _version_ | 1804140062230708224 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Beck, Friedrich |
| author_facet | Beck, Friedrich |
| author_role | aut |
| author_sort | Beck, Friedrich |
| author_variant | f b fb |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV024647988 |
| classification_rvk | ZN 4030 ZN 4900 ZN 5680 |
| ctrlnum | (OCoLC)74995449 (DE-599)BVBBV024647988 |
| discipline | Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01668nam a2200481 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV024647988</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20090910 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">090924s1988 |||| 00||| und d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)74995449</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV024647988</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">und</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-83</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4030</subfield><subfield code="0">(DE-625)157339:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4900</subfield><subfield code="0">(DE-625)157417:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 5680</subfield><subfield code="0">(DE-625)157475:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Beck, Friedrich</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Präparationstechniken für die Fehleranalyse an integrierten Halbleiterschaltungen</subfield><subfield code="c">Friedrich Beck</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Weinheim <<[u.a.]>></subfield><subfield code="b">VCH</subfield><subfield code="c">1988</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">XII, 134 S.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Fehleranalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4016608-9</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Integrierte Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4027242-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Präparation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4130471-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Halbleiterschaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4158811-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Halbleiteranalytik</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Integrierte Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4027242-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Fehleranalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4016608-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Präparation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4130471-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Integrierte Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4027242-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Fehleranalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4016608-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="0"><subfield code="a">Halbleiteranalytik</subfield><subfield code="A">f</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="0"><subfield code="a">Halbleiterschaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4158811-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="1"><subfield code="a">Fehleranalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4016608-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018059587</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | Halbleiteranalytik gnd |
| genre_facet | Halbleiteranalytik |
| id | DE-604.BV024647988 |
| illustrated | Not Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T21:54:00Z |
| institution | BVB |
| language | Undetermined |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018059587 |
| oclc_num | 74995449 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-83 |
| owner_facet | DE-83 |
| physical | XII, 134 S. |
| publishDate | 1988 |
| publishDateSearch | 1988 |
| publishDateSort | 1988 |
| publisher | VCH |
| record_format | marc |
| spelling | Beck, Friedrich Verfasser aut Präparationstechniken für die Fehleranalyse an integrierten Halbleiterschaltungen Friedrich Beck Weinheim <<[u.a.]>> VCH 1988 XII, 134 S. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 gnd rswk-swf Integrierte Schaltung (DE-588)4027242-4 gnd rswk-swf Präparation (DE-588)4130471-8 gnd rswk-swf Halbleiterschaltung (DE-588)4158811-3 gnd rswk-swf Halbleiteranalytik gnd rswk-swf Integrierte Schaltung (DE-588)4027242-4 s Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 s Präparation (DE-588)4130471-8 s DE-604 Halbleiteranalytik f Halbleiterschaltung (DE-588)4158811-3 s |
| spellingShingle | Beck, Friedrich Präparationstechniken für die Fehleranalyse an integrierten Halbleiterschaltungen Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 gnd Integrierte Schaltung (DE-588)4027242-4 gnd Präparation (DE-588)4130471-8 gnd Halbleiterschaltung (DE-588)4158811-3 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4016608-9 (DE-588)4027242-4 (DE-588)4130471-8 (DE-588)4158811-3 |
| title | Präparationstechniken für die Fehleranalyse an integrierten Halbleiterschaltungen |
| title_auth | Präparationstechniken für die Fehleranalyse an integrierten Halbleiterschaltungen |
| title_exact_search | Präparationstechniken für die Fehleranalyse an integrierten Halbleiterschaltungen |
| title_full | Präparationstechniken für die Fehleranalyse an integrierten Halbleiterschaltungen Friedrich Beck |
| title_fullStr | Präparationstechniken für die Fehleranalyse an integrierten Halbleiterschaltungen Friedrich Beck |
| title_full_unstemmed | Präparationstechniken für die Fehleranalyse an integrierten Halbleiterschaltungen Friedrich Beck |
| title_short | Präparationstechniken für die Fehleranalyse an integrierten Halbleiterschaltungen |
| title_sort | praparationstechniken fur die fehleranalyse an integrierten halbleiterschaltungen |
| topic | Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 gnd Integrierte Schaltung (DE-588)4027242-4 gnd Präparation (DE-588)4130471-8 gnd Halbleiterschaltung (DE-588)4158811-3 gnd |
| topic_facet | Fehleranalyse Integrierte Schaltung Präparation Halbleiterschaltung Halbleiteranalytik |
| work_keys_str_mv | AT beckfriedrich praparationstechnikenfurdiefehleranalyseanintegriertenhalbleiterschaltungen |