Untersuchungen von Grenzflächen und Gitterbaufehlern in GaAs mit Hilfe der Rastertunnelmikroskopie:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
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| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Jülich
KFA
1990
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| Ausgabe: | Als Ms. gedr. |
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| Beschreibung: | 134 S. Ill., graph. Darst. |
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