Untersuchung tiefer Störstellen an Grenzflächen in GaAs-Bauelementen unter Einsatz von Photokapazität und Photo-Feldeffekttransitor-Messungen:
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Bibliographic Details
Main Author: Tegude, Franz-Josef (Author)
Format: Thesis Book
Language:Undetermined
Published: 1983
Subjects:
Physical Description:141 S. graph. Darst.

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