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Tegude, F. (1983). Untersuchung tiefer Störstellen an Grenzflächen in GaAs-Bauelementen unter Einsatz von Photokapazität und Photo-Feldeffekttransitor-Messungen.

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Tegude, Franz-Josef. Untersuchung Tiefer Störstellen an Grenzflächen in GaAs-Bauelementen Unter Einsatz Von Photokapazität Und Photo-Feldeffekttransitor-Messungen. 1983.

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Tegude, Franz-Josef. Untersuchung Tiefer Störstellen an Grenzflächen in GaAs-Bauelementen Unter Einsatz Von Photokapazität Und Photo-Feldeffekttransitor-Messungen. 1983.