Proceedings: November 1 -3, 1999, Albuquerque, New Mexico
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems Albuquerque, NM (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: LosAlamitos, Calif. <<[u.a.]>> IEEE Computer Soc. 1999
Schlagworte:
Beschreibung:XIII, 405 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:076950325X

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!