Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Abschlussarbeit Mikrofilm Buch |
| Sprache: | Undetermined |
| Veröffentlicht: |
1995
|
| Ausgabe: | [Mikrofiche-Ausg.] |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | VI, 280 Bl. Ill., graph. Darst. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV024413859 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20090910 | ||
| 007 | he|uuuuuuuuuu | ||
| 008 | 961004s1995 ad|| bm||| 00||| und d | ||
| 015 | |a 96,H03,0687 |2 dnb | ||
| 016 | 7 | |a 94.643636.3 |2 DE-101 | |
| 035 | |a (OCoLC)614015408 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV024413859 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakwb | ||
| 041 | |a und | ||
| 049 | |a DE-83 | ||
| 100 | 1 | |a Opitz, Martin |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten |c von Martin Opitz |
| 250 | |a [Mikrofiche-Ausg.] | ||
| 264 | 1 | |c 1995 | |
| 300 | |a VI, 280 Bl. |b Ill., graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b h |2 rdamedia | ||
| 338 | |b he |2 rdacarrier | ||
| 502 | |a Hannover, Univ., Diss., 1995 | ||
| 533 | |a Mikroform-Ausgabe |n Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches : 24x | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Tantalpentoxid |0 (DE-588)4327320-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a ICP-Massenspektrometrie |0 (DE-588)4280345-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Niobpentoxid |0 (DE-588)4365237-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Spurenanalyse |0 (DE-588)4056593-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a ICP-Atomemissionsspektroskopie |0 (DE-588)4357302-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Niobpentoxid |0 (DE-588)4365237-2 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Spurenanalyse |0 (DE-588)4056593-2 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a ICP-Massenspektrometrie |0 (DE-588)4280345-7 |D s |
| 689 | 0 | 3 | |a ICP-Atomemissionsspektroskopie |0 (DE-588)4357302-2 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a Tantalpentoxid |0 (DE-588)4327320-8 |D s |
| 689 | 1 | 1 | |a Spurenanalyse |0 (DE-588)4056593-2 |D s |
| 689 | 1 | 2 | |a ICP-Massenspektrometrie |0 (DE-588)4280345-7 |D s |
| 689 | 1 | 3 | |a ICP-Atomemissionsspektroskopie |0 (DE-588)4357302-2 |D s |
| 689 | 1 | |5 DE-604 | |
| 776 | 0 | 8 | |i Reproduktion von |a Opitz, Martin |t Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten |d 1995 |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018391769 | ||
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804140383201918976 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Opitz, Martin |
| author_facet | Opitz, Martin |
| author_role | aut |
| author_sort | Opitz, Martin |
| author_variant | m o mo |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV024413859 |
| ctrlnum | (OCoLC)614015408 (DE-599)BVBBV024413859 |
| edition | [Mikrofiche-Ausg.] |
| format | Thesis Microfilm Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>02245nam a2200505 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV024413859</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20090910 </controlfield><controlfield tag="007">he|uuuuuuuuuu</controlfield><controlfield tag="008">961004s1995 ad|| bm||| 00||| und d</controlfield><datafield tag="015" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">96,H03,0687</subfield><subfield code="2">dnb</subfield></datafield><datafield tag="016" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">94.643636.3</subfield><subfield code="2">DE-101</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)614015408</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV024413859</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">und</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-83</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Opitz, Martin</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten</subfield><subfield code="c">von Martin Opitz</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">[Mikrofiche-Ausg.]</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1995</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">VI, 280 Bl.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">h</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">he</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Hannover, Univ., Diss., 1995</subfield></datafield><datafield tag="533" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Mikroform-Ausgabe</subfield><subfield code="n">Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches : 24x</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Tantalpentoxid</subfield><subfield code="0">(DE-588)4327320-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">ICP-Massenspektrometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4280345-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Niobpentoxid</subfield><subfield code="0">(DE-588)4365237-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Spurenanalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4056593-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">ICP-Atomemissionsspektroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4357302-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Niobpentoxid</subfield><subfield code="0">(DE-588)4365237-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Spurenanalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4056593-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">ICP-Massenspektrometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4280345-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">ICP-Atomemissionsspektroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4357302-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Tantalpentoxid</subfield><subfield code="0">(DE-588)4327320-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Spurenanalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4056593-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="2"><subfield code="a">ICP-Massenspektrometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4280345-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="3"><subfield code="a">ICP-Atomemissionsspektroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4357302-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="776" ind1="0" ind2="8"><subfield code="i">Reproduktion von</subfield><subfield code="a">Opitz, Martin</subfield><subfield code="t">Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten</subfield><subfield code="d">1995</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018391769</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV024413859 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T21:59:06Z |
| institution | BVB |
| language | Undetermined |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018391769 |
| oclc_num | 614015408 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-83 |
| owner_facet | DE-83 |
| physical | VI, 280 Bl. Ill., graph. Darst. |
| publishDate | 1995 |
| publishDateSearch | 1995 |
| publishDateSort | 1995 |
| record_format | marc |
| spelling | Opitz, Martin Verfasser aut Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten von Martin Opitz [Mikrofiche-Ausg.] 1995 VI, 280 Bl. Ill., graph. Darst. txt rdacontent h rdamedia he rdacarrier Hannover, Univ., Diss., 1995 Mikroform-Ausgabe Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches : 24x Tantalpentoxid (DE-588)4327320-8 gnd rswk-swf ICP-Massenspektrometrie (DE-588)4280345-7 gnd rswk-swf Niobpentoxid (DE-588)4365237-2 gnd rswk-swf Spurenanalyse (DE-588)4056593-2 gnd rswk-swf ICP-Atomemissionsspektroskopie (DE-588)4357302-2 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Niobpentoxid (DE-588)4365237-2 s Spurenanalyse (DE-588)4056593-2 s ICP-Massenspektrometrie (DE-588)4280345-7 s ICP-Atomemissionsspektroskopie (DE-588)4357302-2 s DE-604 Tantalpentoxid (DE-588)4327320-8 s Reproduktion von Opitz, Martin Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten 1995 |
| spellingShingle | Opitz, Martin Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten Tantalpentoxid (DE-588)4327320-8 gnd ICP-Massenspektrometrie (DE-588)4280345-7 gnd Niobpentoxid (DE-588)4365237-2 gnd Spurenanalyse (DE-588)4056593-2 gnd ICP-Atomemissionsspektroskopie (DE-588)4357302-2 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4327320-8 (DE-588)4280345-7 (DE-588)4365237-2 (DE-588)4056593-2 (DE-588)4357302-2 (DE-588)4113937-9 |
| title | Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten |
| title_auth | Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten |
| title_exact_search | Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten |
| title_full | Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten von Martin Opitz |
| title_fullStr | Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten von Martin Opitz |
| title_full_unstemmed | Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten von Martin Opitz |
| title_short | Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten |
| title_sort | bestimmung von spurenverunreinigungen in niob und tantalpentoxid mit icp aes und icp ms nach multielementfahigen n 30 spuren matrix trennungen unter berucksichtigung anderer refraktarmetalle als analyten |
| topic | Tantalpentoxid (DE-588)4327320-8 gnd ICP-Massenspektrometrie (DE-588)4280345-7 gnd Niobpentoxid (DE-588)4365237-2 gnd Spurenanalyse (DE-588)4056593-2 gnd ICP-Atomemissionsspektroskopie (DE-588)4357302-2 gnd |
| topic_facet | Tantalpentoxid ICP-Massenspektrometrie Niobpentoxid Spurenanalyse ICP-Atomemissionsspektroskopie Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT opitzmartin bestimmungvonspurenverunreinigungeninniobundtantalpentoxidmiticpaesundicpmsnachmultielementfahigenn30spurenmatrixtrennungenunterberucksichtigungandererrefraktarmetallealsanalyten |