Buisset, J. (1996). Tieftemperatur Rastertunnelmikroskopie: Entwicklung eines hochstabilen Gerätekonzepts zur Untersuchung dynamischer Oberflächenprozesse und zur Analyse und Handhabung einzelner Atome und Moleküle zwischen 4 und 300 Kelvin (1. Aufl.). Wiss.- und Technik-Verl.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Buisset, Jörg. Tieftemperatur Rastertunnelmikroskopie: Entwicklung Eines Hochstabilen Gerätekonzepts Zur Untersuchung Dynamischer Oberflächenprozesse Und Zur Analyse Und Handhabung Einzelner Atome Und Moleküle Zwischen 4 Und 300 Kelvin. 1. Aufl. Berlin: Wiss.- und Technik-Verl, 1996.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Buisset, Jörg. Tieftemperatur Rastertunnelmikroskopie: Entwicklung Eines Hochstabilen Gerätekonzepts Zur Untersuchung Dynamischer Oberflächenprozesse Und Zur Analyse Und Handhabung Einzelner Atome Und Moleküle Zwischen 4 Und 300 Kelvin. 1. Aufl. Wiss.- und Technik-Verl, 1996.