Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen:
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Abschlussarbeit Buch |
Sprache: | Undetermined |
Veröffentlicht: |
1991
|
Ausgabe: | [Mikrofiche-Ausg.] |
Schlagworte: | |
Beschreibung: | Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches |
Beschreibung: | XIII, 271 S. Ill., graph. Darst. |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV024403204 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 20090910 | ||
007 | t | ||
008 | 950830s1991 ad|| m||| 00||| und d | ||
035 | |a (OCoLC)753889824 | ||
035 | |a (DE-599)BVBBV024403204 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rakwb | ||
041 | |a und | ||
049 | |a DE-83 | ||
084 | |a UX 2350 |0 (DE-625)146952: |2 rvk | ||
084 | |a ZN 4030 |0 (DE-625)157339: |2 rvk | ||
084 | |a ZN 4960 |0 (DE-625)157426: |2 rvk | ||
100 | 1 | |a Jacomet, Marcel |e Verfasser |4 aut | |
245 | 1 | 0 | |a Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen |c vorgelegt von Marcel Jacomet |
250 | |a [Mikrofiche-Ausg.] | ||
264 | 1 | |c 1991 | |
300 | |a XIII, 271 S. |b Ill., graph. Darst. | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
500 | |a Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches | ||
502 | |a Zürich, Techn. Hochsch., Diss. | ||
650 | 0 | 7 | |a Testmustergenerierung |0 (DE-588)4234817-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Fehleranalyse |0 (DE-588)4016608-9 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Test |0 (DE-588)4059549-3 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a CMOS-Schaltung |0 (DE-588)4148111-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Layout |g Mikroelektronik |0 (DE-588)4264372-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Prüftechnik |0 (DE-588)4047610-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
689 | 0 | 0 | |a CMOS-Schaltung |0 (DE-588)4148111-2 |D s |
689 | 0 | 1 | |a Prüftechnik |0 (DE-588)4047610-8 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
689 | 1 | 0 | |a CMOS-Schaltung |0 (DE-588)4148111-2 |D s |
689 | 1 | 1 | |a Testmustergenerierung |0 (DE-588)4234817-1 |D s |
689 | 1 | |5 DE-604 | |
689 | 2 | 0 | |a CMOS-Schaltung |0 (DE-588)4148111-2 |D s |
689 | 2 | 1 | |a Test |0 (DE-588)4059549-3 |D s |
689 | 2 | |5 DE-604 | |
689 | 3 | 0 | |a CMOS-Schaltung |0 (DE-588)4148111-2 |D s |
689 | 3 | 1 | |a Fehleranalyse |0 (DE-588)4016608-9 |D s |
689 | 3 | |5 DE-604 | |
689 | 4 | 0 | |a Prüftechnik |0 (DE-588)4047610-8 |D s |
689 | 4 | 1 | |a CMOS-Schaltung |0 (DE-588)4148111-2 |D s |
689 | 4 | 2 | |a Layout |g Mikroelektronik |0 (DE-588)4264372-7 |D s |
689 | 4 | |5 DE-604 | |
689 | 5 | 0 | |a CMOS-Schaltung |0 (DE-588)4148111-2 |D s |
689 | 5 | 1 | |a Layout |g Mikroelektronik |0 (DE-588)4264372-7 |D s |
689 | 5 | 2 | |a Fehleranalyse |0 (DE-588)4016608-9 |D s |
689 | 5 | |5 DE-604 | |
999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018381753 |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1804140369244323840 |
---|---|
any_adam_object | |
author | Jacomet, Marcel |
author_facet | Jacomet, Marcel |
author_role | aut |
author_sort | Jacomet, Marcel |
author_variant | m j mj |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV024403204 |
classification_rvk | UX 2350 ZN 4030 ZN 4960 |
ctrlnum | (OCoLC)753889824 (DE-599)BVBBV024403204 |
discipline | Physik Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik |
edition | [Mikrofiche-Ausg.] |
format | Thesis Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>02317nam a2200637 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV024403204</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20090910 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">950830s1991 ad|| m||| 00||| und d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)753889824</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV024403204</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">und</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-83</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">UX 2350</subfield><subfield code="0">(DE-625)146952:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4030</subfield><subfield code="0">(DE-625)157339:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4960</subfield><subfield code="0">(DE-625)157426:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Jacomet, Marcel</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen</subfield><subfield code="c">vorgelegt von Marcel Jacomet</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">[Mikrofiche-Ausg.]</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1991</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">XIII, 271 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zürich, Techn. Hochsch., Diss.</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Testmustergenerierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4234817-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Fehleranalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4016608-9</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Test</subfield><subfield code="0">(DE-588)4059549-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Layout</subfield><subfield code="g">Mikroelektronik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4264372-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Prüftechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4047610-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Prüftechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4047610-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Testmustergenerierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4234817-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="0"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="1"><subfield code="a">Test</subfield><subfield code="0">(DE-588)4059549-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="0"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="1"><subfield code="a">Fehleranalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4016608-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="4" ind2="0"><subfield code="a">Prüftechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4047610-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="4" ind2="1"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="4" ind2="2"><subfield code="a">Layout</subfield><subfield code="g">Mikroelektronik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4264372-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="4" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="5" ind2="0"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="5" ind2="1"><subfield code="a">Layout</subfield><subfield code="g">Mikroelektronik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4264372-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="5" ind2="2"><subfield code="a">Fehleranalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4016608-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="5" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018381753</subfield></datafield></record></collection> |
genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
genre_facet | Hochschulschrift |
id | DE-604.BV024403204 |
illustrated | Illustrated |
indexdate | 2024-07-09T21:58:53Z |
institution | BVB |
language | Undetermined |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018381753 |
oclc_num | 753889824 |
open_access_boolean | |
owner | DE-83 |
owner_facet | DE-83 |
physical | XIII, 271 S. Ill., graph. Darst. |
publishDate | 1991 |
publishDateSearch | 1991 |
publishDateSort | 1991 |
record_format | marc |
spelling | Jacomet, Marcel Verfasser aut Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen vorgelegt von Marcel Jacomet [Mikrofiche-Ausg.] 1991 XIII, 271 S. Ill., graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches Zürich, Techn. Hochsch., Diss. Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 gnd rswk-swf Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 gnd rswk-swf Test (DE-588)4059549-3 gnd rswk-swf CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 gnd rswk-swf Layout Mikroelektronik (DE-588)4264372-7 gnd rswk-swf Prüftechnik (DE-588)4047610-8 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 s Prüftechnik (DE-588)4047610-8 s DE-604 Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 s Test (DE-588)4059549-3 s Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 s Layout Mikroelektronik (DE-588)4264372-7 s |
spellingShingle | Jacomet, Marcel Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 gnd Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 gnd Test (DE-588)4059549-3 gnd CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 gnd Layout Mikroelektronik (DE-588)4264372-7 gnd Prüftechnik (DE-588)4047610-8 gnd |
subject_GND | (DE-588)4234817-1 (DE-588)4016608-9 (DE-588)4059549-3 (DE-588)4148111-2 (DE-588)4264372-7 (DE-588)4047610-8 (DE-588)4113937-9 |
title | Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen |
title_auth | Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen |
title_exact_search | Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen |
title_full | Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen vorgelegt von Marcel Jacomet |
title_fullStr | Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen vorgelegt von Marcel Jacomet |
title_full_unstemmed | Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen vorgelegt von Marcel Jacomet |
title_short | Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen |
title_sort | layoutabhangige fehleranalyse und testsynthese integrierter cmos schaltungen |
topic | Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 gnd Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 gnd Test (DE-588)4059549-3 gnd CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 gnd Layout Mikroelektronik (DE-588)4264372-7 gnd Prüftechnik (DE-588)4047610-8 gnd |
topic_facet | Testmustergenerierung Fehleranalyse Test CMOS-Schaltung Layout Mikroelektronik Prüftechnik Hochschulschrift |
work_keys_str_mv | AT jacometmarcel layoutabhangigefehleranalyseundtestsyntheseintegriertercmosschaltungen |