Jong, A. F. d. (1990). Image interpretation for transmission electron microscopy of thin semiconductor layers and interfaces.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Jong, Alan F. de. Image Interpretation for Transmission Electron Microscopy of Thin Semiconductor Layers and Interfaces. 1990.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Jong, Alan F. de. Image Interpretation for Transmission Electron Microscopy of Thin Semiconductor Layers and Interfaces. 1990.
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