Schnatzke, T. (1992). Bestimmung von Refraktärmetallspuren in Refraktärmatrices mit ICP-AES und ICP-MS ([Mikrofiche-Ausg.].).
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Schnatzke, Thomas. Bestimmung Von Refraktärmetallspuren in Refraktärmatrices Mit ICP-AES Und ICP-MS. [Mikrofiche-Ausg.]. 1992.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Schnatzke, Thomas. Bestimmung Von Refraktärmetallspuren in Refraktärmatrices Mit ICP-AES Und ICP-MS. [Mikrofiche-Ausg.]. 1992.
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