APA (7th ed.) Citation

Geier, S. (1996). Textur- und Spannungsanalyse an dünnen epitaktischen Diamantschichten auf Silizium (Als Ms. gedr.). VDI-Verl.

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Geier, Stephan. Textur- Und Spannungsanalyse an Dünnen Epitaktischen Diamantschichten Auf Silizium. Als Ms. gedr. Düsseldorf: VDI-Verl, 1996.

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Geier, Stephan. Textur- Und Spannungsanalyse an Dünnen Epitaktischen Diamantschichten Auf Silizium. Als Ms. gedr. VDI-Verl, 1996.