Testmustergenerierung und Fehlsimulation in digitalen Schaltungen mit hoher Komplexität:
Gespeichert in:
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| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Berlin [u.a.]
Springer
1988
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| Schriftenreihe: | Informatik-Fachberichte
173 |
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| Beschreibung: | IX, 165 S. Ill. |
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