APA (7th ed.) Citation

Xu, J. (1999). Charakterisierung von MOVPE-II-VI-Halbleiter-Schichten mittels Röntgendiffraktometrie. Mainz.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Xu, Jun. Charakterisierung Von MOVPE-II-VI-Halbleiter-Schichten Mittels Röntgendiffraktometrie. Aachen: Mainz, 1999.

MLA (9th ed.) Citation

Xu, Jun. Charakterisierung Von MOVPE-II-VI-Halbleiter-Schichten Mittels Röntgendiffraktometrie. Mainz, 1999.

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