APA-Zitierstil (7. Ausg.)

(2008). System-on-chip test architectures: Nanometer design for testability. Elsevier/Morgan Kaufmann Publ.

Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)

System-on-chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability. Amsterdam [u.a.]: Elsevier/Morgan Kaufmann Publ, 2008.

MLA-Zitierstil (9. Ausg.)

System-on-chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability. Elsevier/Morgan Kaufmann Publ, 2008.