(2008). Patentgesetz: Mit Europäischem Patentübereinkommen ; Kommentar auf der Grundlage der deutschen und europäischen Rechtsprechung (8., vollständig überarb. und erw. Aufl.). Heymann.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Patentgesetz: Mit Europäischem Patentübereinkommen ; Kommentar Auf Der Grundlage Der Deutschen Und Europäischen Rechtsprechung. 8., vollständig überarb. und erw. Aufl. Köln ; München: Heymann, 2008.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Patentgesetz: Mit Europäischem Patentübereinkommen ; Kommentar Auf Der Grundlage Der Deutschen Und Europäischen Rechtsprechung. 8., vollständig überarb. und erw. Aufl. Heymann, 2008.
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