Egerton, R. F. (2007). Physical principles of electron microscopy: An introduction to TEM, SEM, and AEM ([2. print.].). Springer.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Egerton, Ray F. Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM. [2. print.]. New York, NY: Springer, 2007.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Egerton, Ray F. Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM. [2. print.]. Springer, 2007.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.