(2006). VLSI test principles and architectures: Design for testabiblity. Elsevier/Morgan Kaufmann.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testabiblity. Amsterdam u.a: Elsevier/Morgan Kaufmann, 2006.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testabiblity. Elsevier/Morgan Kaufmann, 2006.
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