Proceedings: 1996 LasVegas, Nevada USA, 1996 January 22 - 25
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Reliability and Maintainability Symposium (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Inst. of Electrical and Electronics Engineers 1996
Beschreibung:XX, 359 S.
ISBN:0780331125
0780331133
0780331141

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