Wilson, R. G., Stevie, F. A., & Magee, C. W. (1989). Secondary ion mass spectrometry: A practical handbook for depth profiling and bulk impurity analysis (1. print.). Wiley.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Wilson, Robert G., Fred A. Stevie, und Charles W. Magee. Secondary Ion Mass Spectrometry: A Practical Handbook for Depth Profiling and Bulk Impurity Analysis. 1. print. New York [u.a.]: Wiley, 1989.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Wilson, Robert G., et al. Secondary Ion Mass Spectrometry: A Practical Handbook for Depth Profiling and Bulk Impurity Analysis. 1. print. Wiley, 1989.
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