Lokale quantitative Phasenanalyse an zweiphasigen TiAl Cr -Legierungen mittels analytischer Transmissionselektronenmikroskopie:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Pfullmann, Thorsten (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1994
Schlagworte:
Beschreibung:Hamburg-Harburg, Techn. Univ., Diss., 1994
Beschreibung:X S., S. 11 - 167 Ill., graph. Darst.

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