(2006). Semiconductor material and device characterization (3. ed.). Wiley-Interscience [u.a.].
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Semiconductor Material and Device Characterization. 3. ed. Hoboken, NJ: Wiley-Interscience [u.a.], 2006.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Semiconductor Material and Device Characterization. 3. ed. Wiley-Interscience [u.a.], 2006.
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