Knauer, M. C. (2006). Absolute Phasenmessende Deflektometrie. Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Knauer, Markus Christian. Absolute Phasenmessende Deflektometrie. Erlangen: Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung, 2006.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Knauer, Markus Christian. Absolute Phasenmessende Deflektometrie. Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung, 2006.
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