Alford, T. L., Feldman, L. C., & Mayer, J. W. (2007). Fundamentals of nanoscale film analysis. Springer.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Alford, Terry L., Leonard C. Feldman, und James W. Mayer. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis. New York: Springer, 2007.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Alford, Terry L., et al. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis. Springer, 2007.
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