Li, H. (2004). A BIST (built-in self-test) strategy for mixed-signal integrated circuits.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Li, Hongzhi. A BIST (built-in Self-test) Strategy for Mixed-signal Integrated Circuits. 2004.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Li, Hongzhi. A BIST (built-in Self-test) Strategy for Mixed-signal Integrated Circuits. 2004.
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