Eignungsnachweis von Prüfprozessen: Prüfmittelfähigkeit und Messunsicherheit im aktuellen Normenumfeld ; mit 47 Tabellen
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Bibliographic Details
Main Authors: Dietrich, Edgar 1951- (Author), Schulze, Alfred 1952- (Author)
Format: Book
Language:German
Published: München [u.a.] Hanser 2004
Edition:2. aktualisierte u. erw. Aufl.
Subjects:
Physical Description:Getr. Zählung Ill., zahlr. graph. Darst.
ISBN:3446228934

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