Wagner, J. (2003). Optische Charakterisierung von II-VI-Halbleiter-Oberflächen in Kombination mit 1st-Principles-Rechnungen.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Wagner, Joachim. Optische Charakterisierung Von II-VI-Halbleiter-Oberflächen in Kombination Mit 1st-Principles-Rechnungen. 2003.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Wagner, Joachim. Optische Charakterisierung Von II-VI-Halbleiter-Oberflächen in Kombination Mit 1st-Principles-Rechnungen. 2003.
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