Schulz, F. W. (1979). Röntgenographische Strukturbestimmung mit dem Picker-Einkristall-Diffraktometer bei tiefen Temperaturen.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Schulz, Friedrich Wilhelm. Röntgenographische Strukturbestimmung Mit Dem Picker-Einkristall-Diffraktometer Bei Tiefen Temperaturen. 1979.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Schulz, Friedrich Wilhelm. Röntgenographische Strukturbestimmung Mit Dem Picker-Einkristall-Diffraktometer Bei Tiefen Temperaturen. 1979.
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