Modellierung von buried-channels MOS-Transistoren, insbersondere des Zusammenhangs zwischen Implantationsprofil und Substrateffekt:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: GABLER, Lutz (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1978

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