Voland, G. (1977). Untersuchung elektronischer Zustände an röntgenbestrahlten Silizium/ Oxid-Grenzflächen mittels Admittanzmessungen.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Voland, Gert. Untersuchung Elektronischer Zustände an Röntgenbestrahlten Silizium/ Oxid-Grenzflächen Mittels Admittanzmessungen. 1977.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Voland, Gert. Untersuchung Elektronischer Zustände an Röntgenbestrahlten Silizium/ Oxid-Grenzflächen Mittels Admittanzmessungen. 1977.
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