Bünau, G. (1981). Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie <SIMS> in der Oberfächenanalyse.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Bünau, Günther. Anwendungen Der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie <SIMS> in Der Oberfächenanalyse. 1981.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Bünau, Günther. Anwendungen Der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie <SIMS> in Der Oberfächenanalyse. 1981.
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