Hoffmann, P. (2003). Untersuchungen zu Inhomogenitäten an der Halbleitergrenzfläche Silizium-Siliziumoxynitrid (1. Aufl.). Shaker.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Hoffmann, Patrick. Untersuchungen Zu Inhomogenitäten an Der Halbleitergrenzfläche Silizium-Siliziumoxynitrid. 1. Aufl. Aachen: Shaker, 2003.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Hoffmann, Patrick. Untersuchungen Zu Inhomogenitäten an Der Halbleitergrenzfläche Silizium-Siliziumoxynitrid. 1. Aufl. Shaker, 2003.
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