Untersuchung der Bildung von Defekten und der Diffusionskinetik auf III-V-Halbleiteroberflächen mit Hilfe der Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie - Semmler, Ulrich Matthias (2003)
Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 2003. - Auch als: Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 4036