Semmler, U. M. (2003). Untersuchung der Bildung von Defekten und der Diffusionskinetik auf III-V-Halbleiteroberflächen mit Hilfe der Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie.
Chicago Style (17th ed.) CitationSemmler, Ulrich Matthias. Untersuchung Der Bildung Von Defekten Und Der Diffusionskinetik Auf III-V-Halbleiteroberflächen Mit Hilfe Der Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie. 2003.
MLA (9th ed.) CitationSemmler, Ulrich Matthias. Untersuchung Der Bildung Von Defekten Und Der Diffusionskinetik Auf III-V-Halbleiteroberflächen Mit Hilfe Der Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie. 2003.
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