Patent-, Musterschutz- und Warenzeichen-Gesetze aller Länder: Textsammlung mit Anmerkungen. de Gruyter.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Patent-, Musterschutz- Und Warenzeichen-Gesetze Aller Länder: Textsammlung Mit Anmerkungen. Berlin: de Gruyter.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Patent-, Musterschutz- Und Warenzeichen-Gesetze Aller Länder: Textsammlung Mit Anmerkungen. de Gruyter.
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