Wegner, M. (2002). Konfokale Mikroskopie zur Topografiebestimmung technischer Oberflächen. Institut für Technische Optik.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Wegner, Michael. Konfokale Mikroskopie Zur Topografiebestimmung Technischer Oberflächen. Stuttgart: Institut für Technische Optik, 2002.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Wegner, Michael. Konfokale Mikroskopie Zur Topografiebestimmung Technischer Oberflächen. Institut für Technische Optik, 2002.
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