Kuhn, H. (2002). Siliziumkarbid (4H): Einkristallzüchtung, Defektcharakterisierung und Auswirkungen der Defekte auf die Eigenschaften elektronischer Bauelemente.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Kuhn, Harald. Siliziumkarbid (4H): Einkristallzüchtung, Defektcharakterisierung Und Auswirkungen Der Defekte Auf Die Eigenschaften Elektronischer Bauelemente. 2002.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Kuhn, Harald. Siliziumkarbid (4H): Einkristallzüchtung, Defektcharakterisierung Und Auswirkungen Der Defekte Auf Die Eigenschaften Elektronischer Bauelemente. 2002.
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