Shindo, D., & Oikawa, T. (2002). Analytical electron microscopy for materials science. Springer.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Shindo, Daisuke, und Tetsuo Oikawa. Analytical Electron Microscopy for Materials Science. Tokyo [u.a.]: Springer, 2002.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Shindo, Daisuke, und Tetsuo Oikawa. Analytical Electron Microscopy for Materials Science. Springer, 2002.
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