Charakterisierung und Optimierung des CM30-Special-Tuebingen-Elektronenmikroskops für die hochauflösende Bildebenen-off-axis-Elektronenholographie:
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2001
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INHALTSVERZEICHNIS
BEZEICHNUNGEN
UND
SYMBOLE
1
EINLEITUNG
UND
MOTIVATION
5
2
ABBILDUNG
IN
EINEM
CTEM
7
2.1
ABBILDUNGSSTRAHLENGANG
EINES
CTEM
.
7
2.2
AUFLOESUNGSVERMOEGEN
NACH
ABBE
.
8
2.2.1
DIE
WELLENLAENGE
VON
KORPUSKULARSTRAHLUNG
.
8
2.3
ENTSTEHUNG
DER
BILDWELLE
.
9
2.3.1
DIE
OBJEKTWELLE
.
9
2.3.2
FORMALE
BESCHREIBUNG
DER
ABBILDUNG
.
10
2.4
ABBILDUNG
SCHWACHER
OBJEKTE
.
14
2.4.1
BILDWELLE
SCHWACHER
OBJEKTE
.
15
2.4.2
BILDINTENSITAET
SCHWACHER
OBJEKTE
.
16
2.4.3
SCHERZER
UND
GABOR-FOKUS
.
17
2.5
DIE
INKOHAERENTEN
BILDFEHLER
UND
INFORMATIONSLIMIT
.
19
2.5.1
LAENGENKOHAERENZ
.
20
2.5.2
WINKELKOHAERENZ
.
21
2.5.3
DAS
INFORMATIONSLIMIT
.
22
3
OFT-AXIS-ELEKTRONENHOLOGRAPHIE
25
3.1
DER
EXPERIMENTELLE
AUFBAU
.
27
3.1.1
STRAHLENGANG
AM
BIPRISMA
.
28
3.2
REKONSTRUKTION
DER
BILDWELLE
.
29
3.3
KORREKTUR
DER
BILDFEHLER
.
32
3.4
AUFNAHME
DER
HOLOGRAMME
.
32
3.4.1
WAHL
DES
OPTIMALEN
DEFOKUS
.
32
3.4.2
MINIMALE
HOLOGRAMMBREITE
.
33
3.5
DER
KONTRAST
P
DER
INTERFERENZSTREIFEN
.
35
3.5.1
KOHAERENZGRAD
1^1
DER
ELEKTRONENQUELLE
.
36
3.5.2
INELASTISCHE
WECHSELWIRKUNG
P
N
D
.
38
3.5.3
INSTABILITAETEN
DES
MIKROSKOPS
P
LNST
.
38
3.5.4
MTF
DES
DETEKTORSYSTEMS
.
39
2
INHALTSVERZEICHNIS
4
DAS
CM30FEG/UT
SPEZIAL
TUEBINGEN
41
4.1
MESSUNG
DES
INFORMATIONSLIMITS
.
44
4.1.1
MESSUNG
MIT
HILFE
VON
YOUNGSCHEN
INTERFERENZSTREIFEN
.
44
4.1.2
MESSUNG
MITTELS
DER
PCTF
.
46
4.1.3
HOLOGRAPHISCHE
METHODE
.
47
4.2
MESSUNG
DES
OEFFNUNGSFEHLERKOEFFIZIENTEN
.
48
4.2.1
DIFFRAKTOMETRISCHE
METHODE
.
48
4.2.2
HOLOGRAPHISCHE
METHODE
.
51
4.3
MESSUNG
DER
FARBFEHLERKONSTANTEN
.
52
4.4
BESTIMMUNG
DER
BRENNWEITE
F
DER
OBJEKTIVLINSE
.
53
4.5
MESSUNG
DES
DREIZAEHLIGEN
ASTIGMATISMUS
.
54
4.5.1
DIE
AUFLOESUNGSBEGRENZUNG
.
54
4.5.2
DAS
MESSPRINZIP
.
55
4.5.3
MESSUNG
DER
ELEKTRONENSTRAHLKIPPUNG
.
57
4.5.4
MESSERGEBNISSE
.
58
4.6
WEITERE
METHODEN
ZUR
BESTIMMUNG
DER
WELLENABERRATION
.
60
4.7
EXPERIMENTELLE
BESTIMMUNG
DER
BIPRISMAKONSTANTEN
.
61
4.8
HOCHAUFLOESENDE
KONVENTIONELLE
ABBILDUNG
VON
GOLD
.
62
4.9
SILIZIUM
IN
[1
10]-ORIENTIERUNG
.
63
4.10
DIE
SLOW-SCAN-CCD-KAMERA
.
64
4.10.1
DIE
VERZEICHNUNG
DER
FASEROPTIK
.
65
5
STABILITAETSMESSUNGEN
FUER
DAS
CM30FEG/UT
SPEZIAL
TUEBINGEN
67
5.1
MOTIVATION:
PHASENDETEKTIONSGRENZE
8 P
.
68
5.2
DAS
BIPRISMA
.
71
5.2.1
STABILITAET
DER
BIPRISMAFADENSPANNUNG
.
71
5.2.2
MECHANISCHE
STABILITAET
DES
BIPRISMAHALTERS/-FADENS
.
72
5.3
MESSUNGEN
ZUR
ELEKTRISCHEN
STABILITAET
.
76
5.3.1
DIE
ABLENKSPULEN
.
76
5.3.2
ELEKTRISCHE
STABILITAET
DER
LINSEN
.
87
5.3.3
ELEKTRISCHE
STABILITAET
DER
STIGMATOREN
.
87
5.4
MESSUNGEN
ZUM
SCHWINGUNGSVERHALTEN
DES
MIKROSKOPS
.
88
5.5
MOEGLICHKEITEN
ZUR
VERBESSERUNG
DES
STREIFENKONTRASTS
.
94
5.5.1
ERSATZ
DER
OELDIFFUSIONSPUMPE
DURCH
EINE
LONENGETTERPUMPE
.
94
5.5.2
OPTIMALE
POSITION
DES
BIPRISMAS
IM
ELEKTRONENMIKROSKOP
.
95
5.5.3
CM30FEG/UT
SPEZIAL
TUEBINGEN
-
YYHOLOGRAPHISCHES
TEM
"
.
97
INHALTSVERZEICHNIS
3
6
EXPERIMENTELLE
ERGEBNISSE
101
6.1
ZNTE
IN
[1
10]-ORIENTIERUNG
.
102
6.1.1
KRISTALLOGRAPHISCHE
STRUKTUR
VON
ZNTE
.
102
6.1.2
SIMULATION
DER
OBJEKTWELLE
.
103
6.1.3
HOLOGRAPHISCHE
NANOBEUGUNG
.
106
6.1.4
ABERRATIONSKORRIGIERTE
OBJEKTWELLE
.
107
6.2
UNTERSUCHUNGEN
AN
NBN
.
110
6.3
ELEKTRONENHOLOGRAPHIE
AN
YBAJCUSO?.*
.
112
6.3.1
ABBILDUNG
DES
SAUERSTOFFGITTERS
.
113
7
ZUSAMMENFASSUNG
UND
AUSBLICK
115
LITERATURVERZEICHNIS
119 |
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