Lang, G. (2001). Charakterisierung und Optimierung des CM30-Special-Tuebingen-Elektronenmikroskops für die hochauflösende Bildebenen-off-axis-Elektronenholographie.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Lang, Günter. Charakterisierung Und Optimierung Des CM30-Special-Tuebingen-Elektronenmikroskops Für Die Hochauflösende Bildebenen-off-axis-Elektronenholographie. 2001.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Lang, Günter. Charakterisierung Und Optimierung Des CM30-Special-Tuebingen-Elektronenmikroskops Für Die Hochauflösende Bildebenen-off-axis-Elektronenholographie. 2001.
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