Logik im Patentrecht: objektive Fundamente der Urteilsbildung
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Stamm, Kurt (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Köln ; Berlin ; Bonn ; München Heymann 2002
Schlagworte:
Beschreibung:XVIII, 403 S. 21 cm
ISBN:3452252760

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