Stamm, K. (2002). Logik im Patentrecht: Objektive Fundamente der Urteilsbildung. Heymann.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Stamm, Kurt. Logik Im Patentrecht: Objektive Fundamente Der Urteilsbildung. Köln ; Berlin ; Bonn ; München: Heymann, 2002.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Stamm, Kurt. Logik Im Patentrecht: Objektive Fundamente Der Urteilsbildung. Heymann, 2002.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.