Electrically based microstructural characterization III: symposium held November 26-29, 2001, Boston, Massachusetts, U.S.A
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Warrendale, PA Materials Research Society 2002
Schriftenreihe:Materials Research Society symposium proceedings 699
Schlagworte:
Beschreibung:Includes bibliographical references and indexes
Beschreibung:xi, 356 p. Ill.
ISBN:1558996354

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