Proceedings of the 21st International Conference on Defects in Semiconductors: ICDS-21; held in Giessen, Germany, 16 - 20 July 2001
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Conference on Defects in Semiconductors Gießen (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam [u.a.] Elsevier 2001
Schriftenreihe:Physica / B 308/310
Schlagworte:
Beschreibung:Einzelaufnahme eines Zeitschr.-Bd.
Beschreibung:XXIX, 1241 S. Ill., graph. Darst.

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