Hölzl, R. (1999). Untersuchung verschiedener Gettermechanismen in Siliciumscheiben mit einer neuartigen tiefenaufgelösten chemischen Ultraspurenanalyse.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Hölzl, Robert. Untersuchung Verschiedener Gettermechanismen in Siliciumscheiben Mit Einer Neuartigen Tiefenaufgelösten Chemischen Ultraspurenanalyse. 1999.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Hölzl, Robert. Untersuchung Verschiedener Gettermechanismen in Siliciumscheiben Mit Einer Neuartigen Tiefenaufgelösten Chemischen Ultraspurenanalyse. 1999.
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