Epitaktisches Wachstum und strukturelle, elektrische und optische Charakterisierung von Ru 2Si 3-Schichten:
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| Veröffentlicht: |
Jülich
Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibl.
2000
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| Schriftenreihe: | Forschungszentrum <Jülich>: Berichte des Forschungszentrums Jülich
3783 |
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