Huttner, T. (2000). Degradation von MOS-Feldeffekttransistoren auf Silicon-on-Insulator-Substraten durch heiße Ladungsträger.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Huttner, Thomas. Degradation Von MOS-Feldeffekttransistoren Auf Silicon-on-Insulator-Substraten Durch Heiße Ladungsträger. 2000.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Huttner, Thomas. Degradation Von MOS-Feldeffekttransistoren Auf Silicon-on-Insulator-Substraten Durch Heiße Ladungsträger. 2000.
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