Waldner, S. P. (2000). Quantitative strain analysis with image shearing speckle pattern interferometry (shearography) ([Mikrofiche-Ausg.].).
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Waldner, Stephan Peter. Quantitative Strain Analysis with Image Shearing Speckle Pattern Interferometry (shearography). [Mikrofiche-Ausg.]. 2000.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Waldner, Stephan Peter. Quantitative Strain Analysis with Image Shearing Speckle Pattern Interferometry (shearography). [Mikrofiche-Ausg.]. 2000.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.