Recent development of electron microscopy 1991: proceedings of the Sixth Chinese-Japanese Electron Microscopy Seminar held in Okayama from November 5 to November 9 in 1991
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Tokyo Japanese Soc. of Electron Microscopy 1992
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:261 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:4930813204

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