Strukturelle Charakterisierung von Grenzflächen und Korngrenzen in CVD-Diamantfilmen auf Silizium-Substraten mittels hochauflösender Verfahren der Transmissionselektronenmikroskopie - Wittorf, Dirk (1999)
Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1999. - Auch als: Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 3637