Wittorf, D. (1999). Strukturelle Charakterisierung von Grenzflächen und Korngrenzen in CVD-Diamantfilmen auf Silizium-Substraten mittels hochauflösender Verfahren der Transmissionselektronenmikroskopie.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Wittorf, Dirk. Strukturelle Charakterisierung Von Grenzflächen Und Korngrenzen in CVD-Diamantfilmen Auf Silizium-Substraten Mittels Hochauflösender Verfahren Der Transmissionselektronenmikroskopie. 1999.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Wittorf, Dirk. Strukturelle Charakterisierung Von Grenzflächen Und Korngrenzen in CVD-Diamantfilmen Auf Silizium-Substraten Mittels Hochauflösender Verfahren Der Transmissionselektronenmikroskopie. 1999.
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